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IM7587阻抗分析儀產(chǎn)品概述
可信賴的機(jī)型3GHz
● 測(cè)試電壓測(cè)量頻率:1MHz~3GHz
● 測(cè)量時(shí)間:較快0.5ms(模擬測(cè)量時(shí)間)
● 測(cè)量值偏差:0.07%(測(cè)量頻率1GHz時(shí)的代表值)
● 基本精度:±0.65% rdg.
● 緊湊主機(jī)僅機(jī)架一半大小,測(cè)試頭尺寸僅手掌大小
● 豐富的接觸檢查(DCR測(cè)量、Hi-Z篩選、波形判定)
● 分析模式下可以邊掃描測(cè)量頻率、測(cè)量信號(hào)電平邊
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IM7585阻抗分析儀產(chǎn)品概述
高速、高穩(wěn)定性測(cè)量,提高生產(chǎn)量!測(cè)量時(shí)間:較快0.5ms,測(cè)量值偏差0.07%
● 測(cè)量頻率:1MHz~1.3GHz
● 測(cè)量時(shí)間:較快0.5ms(模擬測(cè)量時(shí)間)
● 測(cè)量值偏差:0.07%(測(cè)量頻率1GHz時(shí)的代表值)
● 基本精度:±0.65% rdg.
● 緊湊主機(jī)僅機(jī)架一半大小,測(cè)試頭僅手掌大小
● 豐富的接觸檢查功能(DCR測(cè)量、Hi-Z篩選、波形判定)
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IM7583阻抗分析儀產(chǎn)品概述
高速、高穩(wěn)定性測(cè)量,提高生產(chǎn)量!測(cè)量時(shí)間:較快0.5ms
● 測(cè)量頻率:1MHz~600MHz
● 測(cè)量時(shí)間:較快0.5ms(模擬測(cè)量時(shí)間)
● 基本精度:±0.65% rdg.
● 緊湊主機(jī)僅機(jī)架一半大小,測(cè)試頭僅手掌大小
● 豐富的接觸檢查功能(DCR測(cè)量、Hi-Z篩選、波形判定)
● 使用分析功能在掃描測(cè)量頻率、測(cè)量信號(hào)電平的同時(shí)進(jìn)行測(cè)量
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IM7581阻抗分析儀產(chǎn)品概述
較快0.5ms,覆蓋100kHz~300MHz的低頻
● 緊湊主機(jī)僅機(jī)架一半大小、測(cè)試頭僅手掌大小
● 豐富的接觸檢查功能(DCR測(cè)量、Hi-Z篩選、波形判定)
● 使用分析功能在掃描測(cè)量頻率、測(cè)量信號(hào)電平的同時(shí)進(jìn)行測(cè)量
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IM7580A阻抗分析儀產(chǎn)品概述
較快0.5ms,高速、高穩(wěn)定測(cè)量,節(jié)省空間的半個(gè)機(jī)架大小
● 測(cè)量頻率1MHz~300MHz
● 測(cè)量時(shí)間:較快0.5ms
● 基本精度±0.72%rdg.
● 緊湊主機(jī)僅機(jī)架一半大小、測(cè)試頭僅手掌大小
● 豐富的接觸檢查功能(DCR測(cè)量、Hi-Z篩選、波形判定)
● 使用分析功能在掃描測(cè)量頻率、測(cè)量信號(hào)電平的同時(shí)進(jìn)行測(cè)量
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IM3590化學(xué)阻抗分析儀產(chǎn)品概述
用于測(cè)量電氣化學(xué)零件和材料/電池/EDLC(電氣雙層電容)
● 適用于離子運(yùn)動(dòng)和溶液電阻測(cè)量,1mHz ~ 200kHz的寬范圍信號(hào)源
● 1臺(tái)機(jī)器即可實(shí)現(xiàn)LCR測(cè)量、掃描測(cè)量的連續(xù)測(cè)量和高速檢查
● 可測(cè)量電池的無負(fù)載狀態(tài)產(chǎn)生的內(nèi)部電阻
● 較快2ms的高速測(cè)量,實(shí)現(xiàn)掃描測(cè)量的高速化
● 基本精度±0.05%,零件檢查到研究開發(fā)測(cè)量均可對(duì)應(yīng)
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IM3570阻抗分析儀產(chǎn)品概述
1臺(tái)儀器實(shí)現(xiàn)不同測(cè)量條件下的高速檢查
● 1臺(tái)儀器實(shí)現(xiàn)LCR測(cè)量、DCR測(cè)量、掃描測(cè)量等的連續(xù)測(cè)量和高速檢查
● LCR模式下較快1.5ms(1kHz),0.5ms(100kHz)的高速測(cè)量
● 基本精度±0.08%的高精度測(cè)量
● 適用于壓電元件的共振特性檢查、功能性高分子電容的C-D和低ESR測(cè)量,電感器(線圈、變壓器)的DCR和L-Q的測(cè)量
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